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集成电路EMC测试

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发表于 2018-11-27 15:30:18 | 显示全部楼层 |阅读模式
EMC性已成为衡量集成电路性 能的又一重要技术指标。随着集成电路集成度的提高,越来越多的元件集成到芯片上,电路的功能和密度增加了,传输脉冲电流的速度提高了,工作电压降低了,集 成电路本身的电磁骚扰与抗干扰问题已成为集成电路的设计、制造业关注的课题。集成电路EMC的研究不仅涉及集成电路自身的电磁骚扰与抗扰度测试和设计方法 研究,而且有必要与集成电路的应用相结合,将强制性标准对设备和 系统的EMC要求,结合到集成电路的设计中,使电路更易于设计出符合标准的最终产品。电磁骚扰小的集成电路更有利于产品的EMC设计,可以减少系统设计的 负担,节约滤波、屏蔽等措施的费用,因此开展集成电路的EMC设计和检测研究能为电路的应用提供设计指南,节约最终产品的成本。

  集成电路的广泛应 用,反过来对其又提出了更高的要求,人们需要性能更好、可靠性高、成本更低的集成电路。从20世纪60年代以来正如摩尔定律预计的那样每隔18到24个月 芯片上的元件数翻了一番,出现了在芯片的价格持续降低的同时,性能和可靠性不断提高的行业特点。集成的元件数的提高可以通过减小芯片上的关键尺寸(CD) 或最小化特征尺寸来实现,这样在集成度提高的同时芯片的速度也提高了。由于集成电路通过高速的脉冲数字信号来进行工作,工作频率越高产生的电磁骚扰频谱越 宽,越容易引起对外辐射的EMC方面的问题。
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